Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты.

Моногр.

Жан Бургуен; Ж. Бургоен; М. Ланно; Перев. с англ. Ю. М. Гальперина

Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты.

Б89210

Детайли

Издателство

Мир

Местоиздаване

Москва

Година на издаване

1985

Страници

304 с. с черт.

Класификационен индекс

УДК	Значение
ОВ43	ОВ43 --> от ISIS без текст

Допълнителна информация

Отрасъл

Физика

Забележка

Библиогр. с. 289-297.

Инвентаризация

Статус	Брой
отчислен	1

Действия

MLA (7th edition) Chicago / Turabian (16th edition) Harvard

Бургуен, Жан, Бургоен, Ж., Ланно, М., , Перев. с англ. Ю. М. Гальперина Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты., Мир, 1985, 304 с. с черт..

Бургуен, Жан, Бургоен, Ж., Ланно, М., , Перев. с англ. Ю. М. Гальперина. Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты.. Москва: Мир, 1985, 304 с. с черт..

Бургуен, Жан, Бургоен, Ж., Ланно, М., , Перев. с англ. Ю. М. Гальперина (1985) Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты., Москва: Мир, 304 с. с черт.