Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты.

Моногр.

Жан Бургуен; Ж. Бургоен; М. Ланно; Перев. с англ. Ю. М. Гальперина

Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты.

Б89210

Детайли

Издателство

Мир

Местоиздаване

Москва

Година на издаване

1985

Страници

304 с. с черт.

Класификационен индекс

УДК	Тематика
ОВ43	ОВ43 --> от ISIS без текст

Допълнителна информация

Отрасъл

Физика

Забележка

Библиогр. с. 289-297.

Системен №

7297

Инвентаризация

Статус	Брой
отчислен (ОТЧ)	1

Действия

APA Chicago / Turabian (16th edition) Harvard MLA (7th edition)

Бургуен, Ж., Бургоен, Ж., Ланно, М., , П. Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты., Мир, 1985, 304 с. с черт..

Бургуен, Ж., Бургоен, Ж., Ланно, М., , П. . Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты.. Москва: Мир, 1985, 304 с. с черт..

Бургуен, Ж., Бургоен, Ж., Ланно, М., , П. (1985) Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты., Москва: Мир, 304 с. с черт.

Бургуен, Ж., Бургоен, Ж., Ланно, М., & , П. (1985). Точечные дефекты в полупроводниках. Экспериментальные аспекты.. Моногр.. Москва: Мир 304 с. с черт..