Microscopie electronique par emission. Application a l'etude de l'emission d'electrons secondaires par un faisceau d'ions

These

Rene Simon

Microscopie electronique par emission. Application a l'etude de l'emission d'electrons secondaires par un faisceau d'ions

ЦБ ДВ 1911

Детайли

Издателство

Metaux

Местоиздаване

Toulouse

Година на издаване

1959

Страници

62 p. ill.

Класификационен индекс

УДК	Значение
537.5	Електронни и йонни явления. Разряди. Излъчвания

Допълнителна информация

Отрасъл

Физика

Системен №

52729

Допълнителна сигнатура

S61

Инвентаризация

Статус	Брой
отчислен (ОТЧ)	1

Действия

APA Chicago / Turabian (16th edition) Harvard MLA (7th edition) Vancouver

Simon, R. Microscopie electronique par emission. Application a l'etude de l'emission d'electrons secondaires par un faisceau d'ions. Toulouse: Metaux, 1959 62 p. ill.

Simon, R. (1959) Microscopie electronique par emission. Application a l'etude de l'emission d'electrons secondaires par un faisceau d'ions, Toulouse: Metaux 62 p. ill.

Simon, R. (1959). Microscopie electronique par emission. Application a l'etude de l'emission d'electrons secondaires par un faisceau d'ions. These. Toulouse: Metaux, 62 p. ill.

Simon R. Microscopie electronique par emission. Application a l'etude de l'emission d'electrons secondaires par un faisceau d'ions: These. Toulouse: Metaux; 1959. p. 62 p. ill.