Точечные дефекты в полупроводниках

Теория : Моногр.

М. ЛАННО; Ж. Бургуэн; М. Ланно; Пер. с англ. Ю. М. Гальперин и др. ; Под ред. В. Л.

Б84739

Детайли

Издателство

Мир

Местоиздаване

Москва

Година на издаване

1984

Страници

264 с. с ил.

Класификационен индекс

УДК	Значение
ОВ43	ОВ43 --> от ISIS без текст

Допълнителна информация

Отрасъл

Физика

Забележка

Библиогр. с. 248- 253.

Инвентаризация

Статус	Брой
отчислен	1

Действия

MLA (7th edition) Chicago / Turabian (16th edition) Harvard

ЛАННО, М., Бургуэн, Ж., Ланно, М., , Пер. с англ. Ю. М. Гальперин и др. ; Под ред. В. Л. Точечные дефекты в полупроводниках, Мир, 1984, 264 с. с ил..

ЛАННО, М., Бургуэн, Ж., Ланно, М., , Пер. с англ. Ю. М. Гальперин и др. ; Под ред. В. Л.. Точечные дефекты в полупроводниках. Москва: Мир, 1984, 264 с. с ил..

ЛАННО, М., Бургуэн, Ж., Ланно, М., , Пер. с англ. Ю. М. Гальперин и др. ; Под ред. В. Л. (1984) Точечные дефекты в полупроводниках, Москва: Мир, 264 с. с ил.