Точечные дефекты в полупроводниках

Теория : Моногр.

М. ЛАННО; Ж. Бургуэн; М. Ланно

Б84739

Издателство

Мир

Местоиздаване

Москва

Година на издаване

1984

Страници

264 с. с ил.

Класификационен индекс

УДК	Значение
ОВ43	ОВ43 --> от ISIS без текст

Виж още

Вадим В. ЕМЦЕВ; Татьяна В. Машовец; В. В. Емцев; Под ред. С. М. Рывкина (1981)

ЛАННО, М., Бургуэн, Ж., Ланно, М. Точечные дефекты в полупроводниках. Москва: Мир, 1984 264 с. с ил.

ЛАННО, М., Бургуэн, Ж., Ланно, М. (1984) Точечные дефекты в полупроводниках, Москва: Мир 264 с. с ил.

ЛАННО, М., Бургуэн, Ж., & Ланно, М. (1984). Точечные дефекты в полупроводниках. Теория : Моногр.. Москва: Мир, 264 с. с ил.

ЛАННО М, Бургуэн Ж, Ланно М. Точечные дефекты в полупроводниках: Теория : Моногр.. Москва: Мир; 1984. p. 264 с. с ил.